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天瑞EDx射線熒光譜分析儀是一種較新型的可以對多元眾進(jìn)行快速同時側(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線（即X一熒光）.波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩 EDx射線熒光譜分析儀EDX3600H是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。

天瑞X熒光光譜儀EDX3600K由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進(jìn)行檢測。X熒光光譜儀屬于良好的分析檢測儀器，隨著半導(dǎo)體微電子技術(shù)和計算機(jī)技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學(xué)、熱學(xué)、電化學(xué)、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學(xué)精密機(jī)械電子學(xué)結(jié)構(gòu)。

國內(nèi)X熒光光譜儀Edx9000p正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)良好的極速探測器技術(shù)（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000P還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計自動樣品平臺讓準(zhǔn)確檢測得到保證。

XRF熒光光譜儀EDX4500H是一種較新型的可以對多元素進(jìn)行快速同時測定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線（即X熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

國產(chǎn)X熒光光譜分析儀EDX4500H是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。