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光譜型膜厚測(cè)試儀：俗稱X熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀，電鍍層厚度分析儀，金屬鍍層測(cè)厚儀，電鍍厚度測(cè)量?jī)x，電鍍厚度檢測(cè)儀，連續(xù)度檢測(cè)儀，光譜鍍層測(cè)厚儀，鍍層厚度分析儀，鍍層測(cè)量?jī)x，電鍍層分析儀等； 功能：精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度；

Thick 8000電鍍層膜厚測(cè)厚儀是專門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅）的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。 電鍍層膜厚測(cè)試儀

隨著市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈，企業(yè)成本的不斷提高，客戶對(duì)（THICK800A）的測(cè)試精度要求越來(lái)越高，普通的無(wú)法滿足客戶的要求，通過(guò)X射線照射，不同元素的發(fā)射出不同能量及強(qiáng)度的X光，通過(guò)接收器及軟件分析來(lái)精確分析金屬（鋁合金、銅合金）電鍍層（鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫等）的厚度，電鍍膜厚測(cè)試儀廠家，*無(wú)損分析，Z多一次分析五層，Z薄可分析0.