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能量色散X射線光譜儀（EDX4500）是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)各類合金制造廠中對于多種類型合金中元素的快速、準確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X射線激發(fā)合金中的待測元素，在真空狀態(tài)下對Si、S、AI等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一

更準確的檢測結(jié)果是天瑞人堅持不懈的追求，同時天瑞人還時刻牢記為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務。全新開發(fā)研制的EDX 9000PX熒光光譜儀正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX能量色散X熒光光譜儀系列準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)良好的極速探測器技術(shù)（X-SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000P還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，