技術(shù)文章
Technical articles合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認物質(zhì)里的特定元素，同時將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過測量相應(yīng)射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術(shù)就能測定物質(zhì)的元素構(gòu)成。每一個原子都有自己固定數(shù)量的電子（負電微粒）運行在核子周圍的軌道上。而且其電子的數(shù)量等同于核子中的質(zhì)子（正電微粒）數(shù)量。從元素周期表中的原子數(shù)我們則可以得知質(zhì)子的數(shù)目。每一個原子數(shù)都對應(yīng)固定的元素名稱，例如鐵，元素名是Fe，原子數(shù)是26。能量色散X螢光與波...
鍍層測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用頻率變化的厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。鍍層測厚儀誤差的解決辦法：測厚儀在實際應(yīng)用中，尤其是在役設(shè)備的監(jiān)測中，如果出現(xiàn)示值失真，偏離實際厚度的現(xiàn)象，結(jié)果造成管線（設(shè)備）隱患存在，就是依據(jù)錯誤的數(shù)據(jù)更換了管件，造成大量材料浪費。根據(jù)幾年來測厚...
X熒光光譜儀屬于無損害的測量儀器設(shè)備，它的優(yōu)勢就是在測量樣品時不需要提前進行特殊的處理即可測量的儀器，能夠迅速獲得測量的結(jié)果。但對于樣品形狀、大小能夠滿足測量的需求，以及是否存在干擾元素都將對X熒光光譜儀測量結(jié)果的精準度造成一定的影響。樣品大小應(yīng)依據(jù)X熒光光譜儀光斑的大小進行區(qū)分，光斑可以*照在樣品上并且其的厚度也能達到相應(yīng)的要求，能直接放置在測試室當(dāng)中進行測量。光斑無法直接照在樣品上，也就是說樣品小于光斑，應(yīng)該放在同一樣品杯中，達到相應(yīng)量，再進行壓緊，切不可留有間隙，最后實...
鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量，一般常采用無損檢測方法。但是，由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進了諸多測量誤差，為確保測量結(jié)果的準確可靠，有必要對其進行不確定度分析。鍍層厚度的測試方法按照測試方法的基本原理類型可以分為化學(xué)法、電化學(xué)法和物理法三大類。其中，⑴化學(xué)法包括化學(xué)溶解分析法、化學(xué)溶解稱重法和化學(xué)溶解液流計時法；⑵電化學(xué)法包括電化學(xué)陽極溶解法(庫侖法)；⑶物理法包括直接測量法和儀器測量法(磁性法、非磁性法、X射線法和電鏡法等)。鍍層厚度...
X熒光光譜儀是一種常用的光譜技術(shù)，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應(yīng)用用途，X熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術(shù)可以對一些低原子序數(shù)元素進行檢測分析，甚至是在空氣氣氛中也能進行檢測，例如用于測量化學(xué)鍍鎳涂層中磷元素（原子序數(shù)Z=15）的含量。但是，大多數(shù)的低原子序數(shù)元素的檢測分析依然還需要隔離空氣氣氛。近年來比較流行的是一種...
對樣品進行測試時，樣品的拆分一定要做好相關(guān)的準備工作，然后按照要求進行拆分。以下內(nèi)容詳細介紹ROHS檢測儀器測試樣品時的拆分準備與要求：一、環(huán)境1、拆分區(qū)域與實驗室拆分區(qū)域應(yīng)相對，并足夠用于拆分操作。保持拆分環(huán)境潔凈，室內(nèi)溫度在20-25度左右，濕度低于80%。對溫濕度應(yīng)實施監(jiān)控，并應(yīng)避免陽光直射。本要求同時適合于ROHS測試實驗室的環(huán)境要求。2、拆分工作臺拆分工作臺應(yīng)平整呢個、潔凈、耐磨損、耐腐蝕、有足夠承重力，臺面面積應(yīng)滿足拆分工作和樣品擺放的要求。3、安全防護應(yīng)避免拆分...
X熒光光譜儀的分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性，所以用于制作標(biāo)準曲線的標(biāo)準樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：（1）樣品的均勻性。（2）樣品的表面效應(yīng)。（...
覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)進行成品質(zhì)量檢測必要的最重要的工序，鍍層測厚儀的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關(guān)重要，下面總結(jié)測厚儀購買需要注意的八大事項：1.首先需要了解測試的需求，如測試基體材料、涂鍍層材料、測試范圍及精度需求，若濕膜或高溫條件下測量時需特別說明。2.其次對于塑料膜，紙巾，錫紙厚度的測量，測量儀型號的選擇不受限制。3.對于有曲率的工件需提供曲率半徑值，對比鍍層測厚儀的曲率是否滿足現(xiàn)場測量需求，如超標(biāo)需要配置特配探頭。4.從正規(guī)渠道購買鍍層測...
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