EDX 600 X光膜厚儀測(cè)厚儀——X熒光光譜儀

EDX600X光膜厚儀測(cè)厚儀——X熒光光譜儀

EDX600X光膜厚儀測(cè)厚儀是集天瑞儀器多年貴金屬檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足貴金屬成分檢測(cè)的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作更加輕松完成。

EDX600X光膜厚儀測(cè)厚儀貴金屬檢測(cè)儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位，滿(mǎn)足貴金屬的成分檢測(cè)和鍍層厚度測(cè)量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作更人性化、更方便。

性能特點(diǎn)

專(zhuān)業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。

X光膜厚儀測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測(cè)量對(duì)象：固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá)：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％。
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)：0.1％。
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為：0.1％。

X光膜厚儀測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

單樣品腔。
正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
外觀尺寸： 430×380×355mm 
樣品腔尺寸：306×260×78mm 
重量：30kg