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鍍層厚度測試儀
鍍層測厚儀
產(chǎn)品說明、技術參數(shù)及配置 EDX-V是天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測量技術,研發(fā)的一款X射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。儀器采用多導毛細管X射線光學系統(tǒng),對于微米級尺寸電子零件、芯片針腳、晶圓微區(qū)等部件的鍍層厚度和成分分析,能進行高效、準確的測量。
天瑞儀器 EDX600Pro 是一款下照式結構的 X 熒光鍍層測厚儀,以下是其詳細介紹:
產(chǎn)品說明、技術參數(shù)及配置 儀器介紹 Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
天瑞儀器 EDX600PLUS 是一款下照式結構的能量色散 X 熒光光譜儀鍍層測厚儀,以下是它的一些詳細介紹1:
天瑞鍍層檢測儀是江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)的用于測量鍍層等金屬薄膜厚度的儀器,以下是關于它的詳細介紹: 儀器型號及特點 Thick800A:該型號采用全自動軟件操作,可進行多點測試,由軟件控制儀器和移動平臺。配備 φ0.1mm 的小孔準直器,能滿足微小測試點需求;擁有高精度移動平臺,重復定位精度小于 0.005mm;采用高度定位激光,可自動定位測試高度;還具備高分辨率探頭,能使分析結果更加準確